要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時 間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測 試系統的價格而已。
雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。
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